堵轉(zhuǎn)試驗(yàn)是電機(jī)檢驗(yàn)試驗(yàn)和型式試驗(yàn)的重點(diǎn)項(xiàng)目。通過堵轉(zhuǎn)試驗(yàn)可以確定電機(jī)的哪些性能指標(biāo)？能找到馬達(dá)的什么制造或設(shè)計(jì)缺陷？鎖定轉(zhuǎn)子試驗(yàn)數(shù)據(jù)不一致對(duì)最終使用有什么影響？這個(gè)問題往往是電機(jī)制造商隨時(shí)可能遇到的問題。

試驗(yàn)過程中，可通過堵轉(zhuǎn)試驗(yàn)(焊接質(zhì)量)檢查電機(jī)繞組電抗、定轉(zhuǎn)子斷條是否正常、籠型轉(zhuǎn)子是否為極數(shù)、所用轉(zhuǎn)子這是在堵轉(zhuǎn)試驗(yàn)中非常容易發(fā)現(xiàn)的問題是否合適。

00-1010堵轉(zhuǎn)試驗(yàn)的電壓值可根據(jù)電機(jī)額定電壓選擇。通過恒壓法試驗(yàn)測(cè)量了堵轉(zhuǎn)電流Ik和堵轉(zhuǎn)損耗TK，進(jìn)而計(jì)算出電機(jī)的阻抗ZD。也可以用恒流法(按額定電流等于堵轉(zhuǎn)電流)測(cè)試，測(cè)量堵轉(zhuǎn)電壓Uk、堵轉(zhuǎn)電流Ik和堵轉(zhuǎn)損耗Pk，然后計(jì)算電機(jī)阻抗Zd。

由于堵轉(zhuǎn)試驗(yàn)的電流較大，為了防止電機(jī)繞組燒毀造成堵轉(zhuǎn)時(shí)間過長，也為了防止設(shè)備的損壞,大部分廠家采用恒壓試驗(yàn)方法。試驗(yàn)過程中，連續(xù)通電時(shí)間不應(yīng)超過10s，以免繞組過熱或長時(shí)間斷電造成設(shè)備故障。

堵轉(zhuǎn)試驗(yàn)的常用方法

由試驗(yàn)電源容量估算的外加電壓調(diào)整范圍應(yīng)為被試電機(jī)額定電壓的10%~60%。對(duì)于100千瓦以下的電機(jī)，電源輸出電流應(yīng)為額定電流;電機(jī)的1.4~1.7倍，100千瓦以上的電機(jī)電源輸出電流應(yīng)為額定電流的1.2~1.5倍。堵轉(zhuǎn)試驗(yàn)的電源為短期運(yùn)行，連續(xù)定額的供電設(shè)備可超負(fù)荷50%。

常用試驗(yàn)方法：采用恒流法進(jìn)行堵轉(zhuǎn)試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)接通轉(zhuǎn)子堵住不轉(zhuǎn)動(dòng)(對(duì)于繞線轉(zhuǎn)子電機(jī)，轉(zhuǎn)子也應(yīng)短路)，并給定子繞組通電，由調(diào)壓器調(diào)節(jié)電壓，使電壓從零逐漸升高。當(dāng)電流達(dá)到額定電流Ik時(shí)，停止升壓，此時(shí)測(cè)量電壓Uk和電氣Ik值。

無三相供電時(shí)，可采用單相供電方式，無需制動(dòng)轉(zhuǎn)子，簡(jiǎn)化了試驗(yàn)操作程序(不推薦)。采用三相供電方式時(shí)，應(yīng)堵住電機(jī)軸，使轉(zhuǎn)子保持靜止。特別提醒，測(cè)試時(shí)，功率表要選用低功率因數(shù)表.

同規(guī)格00-1010電機(jī)的堵轉(zhuǎn)電流Ik一般只有3%-6%的差值，要求三相堵轉(zhuǎn)電流的任意一相平均值不超過平均值.的2%-3%

阻塞電流過小的原因1)由于鐵芯偏心或掃孔、轉(zhuǎn)子外徑過小或定子孔內(nèi)近似氣隙增大，Ik過小。

2)焊接質(zhì)量差會(huì)增加轉(zhuǎn)子電阻。

3)鑄鋁轉(zhuǎn)子有缺陷(轉(zhuǎn)子薄帶、鋁純度不足等)。).

4)線圈尺寸放大或繞組太亂，增加了漏抗，導(dǎo)致Ik太小。

00-1010 1)核心缺口文件大。

2)定子和轉(zhuǎn)子鐵芯的中心線沒有對(duì)齊(直觀地說，定子和轉(zhuǎn)子軸線沒有對(duì)齊)。

3)線圈匝數(shù)少會(huì)降低電抗，增加Ik。

4)線圈端部尺寸減小等。

堵轉(zhuǎn)試驗(yàn)過程要素

2)轉(zhuǎn)子繞組斷裂或焊接質(zhì)量差。

3)鑄鋁轉(zhuǎn)子電機(jī)存在缺陷(薄條不平整、斷條)等。

堵轉(zhuǎn)損失過大或過小的原因分析：相同規(guī)格電機(jī)的堵轉(zhuǎn)損失一般只相差5%-10%；如果超過偏差范圍，就可以判斷有問題。

堵轉(zhuǎn)損耗Pk過小的原因

1)轉(zhuǎn)子電阻小，比如籠條用銅代替原來的黃銅條。

2)高轉(zhuǎn)矩三相異步電動(dòng)機(jī)，用低電阻率的導(dǎo)體代替原來高電阻率的導(dǎo)體。

合金，導(dǎo)致低轉(zhuǎn)子電阻和Pk降低。

堵轉(zhuǎn)耗損增大的原因

1)轉(zhuǎn)子銅排焊接質(zhì)量不好或材料不符合要求。

2)用黃銅代替原來的銅籠。

3)鑄造鋁

通常情況下，如果堵轉(zhuǎn)試驗(yàn)數(shù)據(jù)有異常，大多數(shù)人會(huì)認(rèn)為轉(zhuǎn)子是故障。事實(shí)上，這只是以定子無異常為前提的判斷.當(dāng)不確定時(shí)，故障機(jī)器的轉(zhuǎn)子可以與相同規(guī)格的正常電機(jī)定子一起測(cè)試。如果測(cè)試結(jié)果仍有問題，可以排除定子問題，直接分析轉(zhuǎn)子問題?？梢钥隙ǖ氖?，當(dāng)電機(jī)堵轉(zhuǎn)試驗(yàn)數(shù)據(jù)不合格時(shí)，在某些工況下，電機(jī)的無法正常起動(dòng)和電機(jī)的最終放行都要充分考慮其實(shí)際使用情況。